|
|
|
 MICROVISION |
公司簡介
Microvision 成立於 1983 年是全球顯示器測試系統的主要供應商，可以檢測FPD
CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD 投影機等，應用於 R&D, QC 及工業測試，
Microvision 以技術先進的產品及完善的售後服務，贏得用戶的尊敬。
|
系統功能說明
Microvision 顯示器量測系統可選擇兩種取樣探頭 SS410及SS420 ,使用一組移動平台與控制電腦,經由專業控制軟體,進行顯示器光學特性的自動量測與分析 |
|
|
 |
SS410-XE 光學量測系統配置 CCD 及分光儀;適用於需要像素幾何分析以及一般性亮度與顏色分析.它可選配 反應時間測量模組.
|
|
|
 |
SS420-XE 光學量測系統結合分光儀與角度器.除了適用於一般性亮度與顏色分析外,還可以量測視角.最大量測視角為單邊85度. |
|
SS430-XE 光學量測系統 |
 |
SS430 光學量測系統包含 SS410 與 SS420 光學量測模組、共用移動平台及控制電腦，以有效的成本達成所有 SS410 及 SS420 的測試功能。 |
|
|
 |
灰階反應時間、動態影像分析量測，可單機使用或整合在 SS410 光學量測模組內。 |
|
|
 |
系統標準配備是 SS30 移動平台,可依量測物件尺寸需求選擇加大平台 SS50/SS60/SS70 ,最大量測尺寸 80吋 |
|
軟體支援 |
 |
ISO 9241-30x, TCO-03,05,06,TCO5.1,
VESA-FPDM,ISO9241-3/8,ISO 13406-2.
|
停產機型
SS210XE / SS220 / SS230
SS310XE / SS320 / SS330 |
|
| |
|
|
