• 是一款高效能、多功能的邊界掃描控制器，專為多TAP測試與並行 JTAG測試及系統內編程 (In-System Programming, ISP) 而設計。
• 高效能架構：支援高速且穩定的測試與編程流程，適用於複雜電路板與系統。
• 多TAP支援：可同時控制多個 JTAG TAP，提升測試覆蓋率與效率。
• 並行測試能力：允許多任務同時執行，縮短驗證與量產測試時間。
• 系統內編程 (ISP)：支援 Flash、EEPROM、CPLD、FPGA 等裝置的即時程式燒錄與更新。

高效能USB 2.0邊界掃描控制器是一款專為嵌入式系統測試與除錯設計的先進 JTAG 解決方案，具備以下特色：

• 高速介面：採用 USB 2.0 連線，提供穩定且高頻寬的測試資料傳輸。
• 邊界掃描測試：完整支援 IEEE 1149.x 標準，適用於電路板層級的驗證與診斷。
• 系統內編程 (ISP)：可直接在電路板上對 Flash、EEPROM、CPLD、FPGA 等裝置進行程式燒錄與更新。
• 進階診斷能力：支援針腳層級故障定位，快速識別開路、短路與訊號完整性問題。
• 便攜與易用性：USB 介面設計使其易於部署，適合研發、量產測試與維護環境。

PXIe-1149.1/4E是一款採用標準PXIe介面、高效能、多功能的邊界掃描控制器，專為多TAP測試與並行JTAG測試及系統內編程 (In-System Programming, ISP) 而設計。

• 高效能架構：提供快速且穩定的測試與編程能力，適合複雜電路板與系統驗證。
• 多TAP支援：可同時控制多個 JTAG TAP，提升測試覆蓋率與效率。
• 並行測試能力：支援多任務同時執行，縮短研發與量產測試時間。
• 系統內編程 (ISP)：可直接在電路板上對 Flash、EEPROM、CPLD、FPGA 等裝置進行程式燒錄與更新。

PXIe-1149.5提供MTM-Bus主控端、從屬端及監控功能，並具備完整的 IEEE-1149.5電氣與協定相容性。其採用標準 PXIe 介面設計，能夠輕鬆整合至任何測試程式集 (Test Program Set, TPS)，大幅提升系統測試與驗證的便利性。

• MTM-Bus 支援：同時提供 Master、Slave 與監控模式，滿足多樣化測試需求。
• 標準相容性：完全符合 IEEE-1149.5 電氣與協定規範，確保跨平台一致性。
• PXIe 介面：標準化模組化設計，便於快速整合至現有測試架構。
• 高效能測試：適用於複雜數位系統的驗證、除錯與系統內編程。

是一款高效能、高針腳數的邊界掃描數位 I/O 模組，專為複雜電路板與系統測試設計，具備以下特色：

高針腳數支援：每個模組可提供300個single-ended I/O或150個differential，且皆可獨立控制。

• 電壓可配置：JTAG 與數位 I/O 埠電壓可在 1.25V 至 3.3V 間以15個增量調整，I/O埠亦支援LVDS邏輯。
• 掃描時間最佳化：每組50個I/O可選擇繞過 (bypass)，以縮短掃描時間並提升效率。
• BSDL 檔案支援：提供完整 BSDL 檔案，方便與被測單元 (UUT) 整合。
• 單鏈 TAP 輸出：支援單鏈配置(single-chain)，一個JTAG埠即可同時控制 ScanIO-300LV與UUT。

高效能混合訊號多功能測試模組 (High-Performance Mixed Signal, Multi-Functional Test Module)具備高效能與高針腳數設計，支援多樣化針腳配置，專為數位與類比訊號測試而打造：

• 數位/類比I/O支援：提供104個可邊界掃描控制的數位I/O通道，以及8個具進階功能的類比 I/O 通道。
• 測試覆蓋率提升：可同時量測或輸出數位與類比訊號，擴展被測單元 (UUT) 的測試範圍。
• JTAG 控制整合：單一 JTAG 埠即可同時控制 ScanIO 與 UUT，或透過 TAP 輸出埠菊鏈串接額外的 ScanIO 模組。
• 標準相容性：完全支援 IEEE-1149.x 控制器，確保跨平台整合。
• 可配置模式(透過兩個埠)
1. 最多104個數位I/O針腳
2. 最多56對LVDS (Low Voltage Differential Signaling)差分訊號
3. IEEE-1149.6相容，支援交流耦合測試：6組TX與6組RX
4. 8個專用類比I/O通道，可在-15 ~ +15V內產生或量測混合訊號

ScanDIMM 插槽測試器(Boundary-Scan DIMM Socket Tester)專為記憶體模組測試設計，支援多種規格與完整 JTAG 相容性：

• 支援模組規格：相容 DIMM 與 SODIMM 外型，涵蓋 SDRAM、DDR、DDR2、DDR3 記憶體模組。
• 電源/接地測試：可檢測電源與接地針腳的開路狀況，確保模組可靠性。
• 獨立針腳控制：每個針腳皆可獨立設定為 驅動 (Drive)、感測 (Sense)、雙向 (Bi-directional)、三態 (Tri-state)。
• 電壓相容性：採用具鑰控設計的連接器，確保不同電壓環境下的安全相容。
• JTAG/IEEE 1149.1 相容：完全符合標準 Test Access Port (TAP) 規範。
• 模組串接：可透過菊鏈方式串接最多 8 個 ScanDIMM 模組，提升測試覆蓋率與擴展性。

是一款具備高效能且價格合理的專業儀器，專為工程師在I²C匯流排電路除錯與故障診斷中的需求而設計。

• 即時監控與記錄：可即時監測並記錄 I²C 匯流排上的通訊流量，協助分析系統行為。
• 監控與紀錄：能夠產生I²C傳輸，與匯流排上的元件直接互動，驗證通訊正確性。
• 系統內編程(ISP)：支援對 I²C EEPROM 進行系統內程式燒錄，提升開發與維護效率。

高階I²C匯流排分析與測試平台，提供完整的效能、彈性與功能，滿足工程師在I²C匯流排除錯、測試與驗證 上的需求。

• 全面功能：具備BusPro-I分析儀的所有能力，並進一步強化。
• 進階特性：新增多項高階功能，專為自動化系統測試、元件驗證與 參數化測試而設計。
• 高效能架構：支援即時監控、交易生成與系統內編程，適用於複雜設計與量產環境。
• 靈活應用：可廣泛應用於研發、系統整合與製造階段，提升測試覆蓋率與可靠性。