Microvision 成立於 1983 年是全球顯示器測試系統的主要供應商，可
以檢測 CRT, FPD, PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD 投影機等，應用
於 R&D, QC 及工業測試，Microvision 以技術先進的產品及完善的售
後服務，贏得用戶的尊敬。
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SS310-XE 光學量測系統包含 SS310 光學量測模組、移動平台及控制電腦。 SS310 光學量測模組包含 CCD 及分光儀，具有 CRT 顯示器及平面顯示器的量測功能。 |
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SS320 光學量測系統包含 SS320 光學量測模組、移動平台及控制電腦。 SS320 光學量測模組結合分光儀與角度器，最大量測視角為單邊 85 度，可量測達 80 吋顯示器仍維持系統一貫的輕巧與精確性。 |
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SS330 光學量測系統包含 SS310 光學量測模組與 SS320 光學量測模組、共用移動平台及控制電腦，以有效的成本達成所有 SS310 及 SS320 的測試功能。 |
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灰階反應時間、動態影像分析量測，可單機使用或整合在 SS310 光學量測模組內。 |
ISO 9241-30x, TCO-03,05,06, ISO 9241-3/8, ISO 13406-2, VESA-FPDM. |
